New optimization techniques for selecting test frequencies for linear analog circuits - Université de Bretagne Occidentale
Chapitre D'ouvrage Année : 2015

New optimization techniques for selecting test frequencies for linear analog circuits

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01081196 , version 1 (07-11-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01081196 , version 1

Citer

Ahcène Bounceur, Mohand Bentobache, Reinhardt Euler, Salvador Mir, Yann Kieffer. New optimization techniques for selecting test frequencies for linear analog circuits. IFIP VLSI SoC SIP, 2015. ⟨hal-01081196⟩
133 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More