Efficient minimization of test frequencies for linear analog circuits - Université de Bretagne Occidentale
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Efficient minimization of test frequencies for linear analog circuits

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00789857 , version 1 (18-02-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00789857 , version 1

Citer

Mohand Bentobache, Ahcène Bounceur, Reinhardt Euler, Yann Kieffer, Salvador Mir. Efficient minimization of test frequencies for linear analog circuits. 18th IEEE European Test Symposium (ETS), May 2013, Avignon, France. ⟨hal-00789857⟩
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