Génération de vecteurs de test pour les MEMS non linéaires pour le calcul des noyaux de Volterra

Ahcène Bounceur; A. Dhayni; Salvador Mir; Libor Rufer

Conference Papers Year : 2005

Génération de vecteurs de test pour les MEMS non linéaires pour le calcul des noyaux de Volterra

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Ahcène Bounceur

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Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés

CV

A. Dhayni

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Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés

Salvador Mir

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Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés

Libor Rufer

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Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés

Keywords

MEMS vecteurs de test

Domains

Micro and nanotechnologies/Microelectronics

Ahcène Bounceur : Connect in order to contact the contributor

https://hal.univ-brest.fr/hal-00522100

Submitted on : Wednesday, September 29, 2010-4:27:08 PM

Last modification on : Thursday, April 4, 2024-9:04:52 PM

Dates and versions

hal-00522100 , version 1 (29-09-2010)

Identifiers

HAL Id : hal-00522100 , version 1

Cite

Ahcène Bounceur, A. Dhayni, Salvador Mir, Libor Rufer. Génération de vecteurs de test pour les MEMS non linéaires pour le calcul des noyaux de Volterra. Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2005, France. pp.0. ⟨hal-00522100⟩

Génération de vecteurs de test pour les MEMS non linéaires pour le calcul des noyaux de Volterra

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