Interférence entre lignes signals en technologie silicium submicronique

Thierry Le Gouguec 1, 2 Noël Tanguy 1, 2 Fabrice Huret 1, 2 Jean Chilo 3
1 Lab-STICC - Laboratoire des sciences et techniques de l'information, de la communication et de la connaissance (UMR 3192)
2 LEST - Laboratoire d'Electronique et Systèmes de Télécommunications
3 IMEP-LAHC - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation
Type de document :
Communication dans un congrès
11e Colloque International de Compatibilité Electromagnétique, CEM 2002, Mar 2002, Grenoble, France. pp.421-426, 2002
Liste complète des métadonnées
http://hal.univ-brest.fr/hal-00488156
Contributeur : Noël Tanguy <>
Soumis le : mardi 1 juin 2010 - 11:57:49
Dernière modification le : mardi 16 janvier 2018 - 15:54:15

Identifiants

  • HAL Id : hal-00488156, version 1

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Citation

Thierry Le Gouguec, Noël Tanguy, Fabrice Huret, Jean Chilo. Interférence entre lignes signals en technologie silicium submicronique. 11e Colloque International de Compatibilité Electromagnétique, CEM 2002, Mar 2002, Grenoble, France. pp.421-426, 2002. 〈hal-00488156〉

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