Influence des éléments RLC dépendant de la fréquence sur le comportement dans le domaine temporal des interconnexions dans un environnement complexe en technologie CMOS avancée - Université de Bretagne Occidentale
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Influence des éléments RLC dépendant de la fréquence sur le comportement dans le domaine temporal des interconnexions dans un environnement complexe en technologie CMOS avancée

Yves Quéré
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 835017
Laboratoire des sciences et techniques de l'information, de la communication et de la connaissance (UMR 3192)
Laboratoire d'Electronique et Systèmes de Télécommunications
Thierry Le Gouguec
Laboratoire des sciences et techniques de l'information, de la communication et de la connaissance (UMR 3192)
Laboratoire d'Electronique et Systèmes de Télécommunications
CV
Noël Tanguy
Laboratoire des sciences et techniques de l'information, de la communication et de la connaissance (UMR 3192)
Laboratoire d'Electronique et Systèmes de Télécommunications
CV
Pierre-Marie Martin
Laboratoire des sciences et techniques de l'information, de la communication et de la connaissance (UMR 3192)
Laboratoire d'Electronique et Systèmes de Télécommunications
Denis Le Berre
Laboratoire des sciences et techniques de l'information, de la communication et de la connaissance (UMR 3192)
Laboratoire d'Electronique et Systèmes de Télécommunications
Fabrice Huret
  • Fonction : Auteur
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Laboratoire des sciences et techniques de l'information, de la communication et de la connaissance (UMR 3192)
Laboratoire d'Electronique et Systèmes de Télécommunications

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Noël Tanguy  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

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Soumis le : mardi 1 juin 2010-11:38:54

Dernière modification le : mardi 27 août 2024-12:41:30

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Dates et versions

hal-00488138 , version 1 (01-06-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00488138 , version 1

Citer

Yves Quéré, Thierry Le Gouguec, Noël Tanguy, Pierre-Marie Martin, Denis Le Berre, et al.. Influence des éléments RLC dépendant de la fréquence sur le comportement dans le domaine temporal des interconnexions dans un environnement complexe en technologie CMOS avancée. 13e Colloque International de Compatibilité Electromagnétique, CEM 2006., Apr 2006, Saint-Malo, France. pp.350-351. ⟨hal-00488138⟩

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