Multiphysics Analysis of Pin-Socket Electrical Dynamic Contact Susceptibility Under Vibration Stress - Laboratoire des sciences et techniques de l'information, de la communication et de la connaissance, site de l'UBO Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility Année : 2019
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Dates et versions

hal-02611684 , version 1 (18-05-2020)

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Citer

Blaise Elysée Guy Ravelo. Multiphysics Analysis of Pin-Socket Electrical Dynamic Contact Susceptibility Under Vibration Stress. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2019, 61 (2), pp.344-351. ⟨10.1109/TEMC.2018.2832169⟩. ⟨hal-02611684⟩
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