Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
Année : 2019
isabelle RIGUIDEL : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02611684
Soumis le : lundi 18 mai 2020-15:35:41
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:16
Citer
Blaise Elysée Guy Ravelo. Multiphysics Analysis of Pin-Socket Electrical Dynamic Contact Susceptibility Under Vibration Stress. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2019, 61 (2), pp.344-351. ⟨10.1109/TEMC.2018.2832169⟩. ⟨hal-02611684⟩
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