Estimation des métriques de test analogique à base d'un échantillon multivarié de circuits extrêmes - Laboratoire des sciences et techniques de l'information, de la communication et de la connaissance, site de l'UBO Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Estimation des métriques de test analogique à base d'un échantillon multivarié de circuits extrêmes

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Lucie Torella  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01025149

Soumis le : jeudi 17 juillet 2014-11:16:02

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:04:29

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01025149 , version 1 (17-07-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01025149 , version 1

Citer

K. Beznia, Ahcène Bounceur, R. Euler, Salvador Mir. Estimation des métriques de test analogique à base d'un échantillon multivarié de circuits extrêmes. 16ème Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM'13), Jun 2013, Grenoble, France. ⟨hal-01025149⟩

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