A Classification Approach for an Accurate Analog/RF BIST Evaluation Based on the Process Parameters

Ahcène Bounceur 1, 2 Samia Djemai 3 Belkacem Brahmi 4 Mohand Ouamer Bibi 4 Reinhardt Euler 5
2 Lab-STICC_UBO_CACS_MOCS
Lab-STICC - Laboratoire des sciences et techniques de l'information, de la communication et de la connaissance
5 Lab-STICC_UBO_CID_DECIDE
Lab-STICC - Laboratoire des sciences et techniques de l'information, de la communication et de la connaissance
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Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2018, 34 (3), pp.321-335. 〈10.1007/s10836-018-5730-0〉
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http://hal.univ-brest.fr/hal-01829177
Contributeur : Ahcène Bounceur <>
Soumis le : mardi 3 juillet 2018 - 19:32:46
Dernière modification le : mercredi 4 juillet 2018 - 01:13:52

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Ahcène Bounceur, Samia Djemai, Belkacem Brahmi, Mohand Ouamer Bibi, Reinhardt Euler. A Classification Approach for an Accurate Analog/RF BIST Evaluation Based on the Process Parameters. Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2018, 34 (3), pp.321-335. 〈10.1007/s10836-018-5730-0〉. 〈hal-01829177〉

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