Non-destructive characterization of thin ferroelectric layers at microwave frequencies

Type de document :
Communication dans un congrès
Electroceramics XI, Sep 2008, manchester, United Kingdom. pp.987, 2008
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Contributeur : Jean-Luc Mattei <>
Soumis le : mardi 15 juin 2010 - 16:59:16
Dernière modification le : mardi 16 janvier 2018 - 15:54:15

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  • HAL Id : hal-00492372, version 1

Citation

Serge De Blasi, Patrick Queffelec. Non-destructive characterization of thin ferroelectric layers at microwave frequencies. Electroceramics XI, Sep 2008, manchester, United Kingdom. pp.987, 2008. 〈hal-00492372〉

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