Serge de Blasi, Ismail Batard, Alexis Chevalier, Philippe Talbot, Patrick Queffelec. Méthodes de mesure micro-ondes pour la caractérisation électromagnétique de couches ferroélectriques d'épaisseurs nanométrique.
Colloque International Télécom'2009 & 6èmes JFMMA, Mar 2009, agadir, Maroc. pp.6.
⟨hal-00492352⟩