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Conference papers

Mesure temporelle de la température des dispositifs micro-ondes par thermoréflectance

Résumé : Une méthode optique par thermoréflectance se basant sur la réflectivité des matériaux a été mise en place afin de mesurer la température des transistors HEMT GaN. Cette méthode permet des mesures en régime transitoire ou permanent avec une résolution avec une précision pouvant atteindre 0.5°C avec moyennage. Elle apporte notamment une information complémentaire à la mesure de la température de canal, moyennée par une méthode électrique basée sur la caractérisation du couranttension du drain [1].
Document type :
Conference papers
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03745096
Contributor : Raphael Sommet Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Wednesday, August 3, 2022 - 4:42:33 PM
Last modification on : Friday, August 5, 2022 - 3:20:49 AM

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Actes_conference_JNM2022-JAKAN...
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Identifiers

  • HAL Id : hal-03745096, version 1

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Citation

Anass Jakani, Khallil Karrame, Raphaël Sommet, Jean-Christophe Nallatamby. Mesure temporelle de la température des dispositifs micro-ondes par thermoréflectance. XXIIèmes Journées Nationales Microondes, Jun 2022, Limoges, France. ⟨hal-03745096⟩

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