Autotest Intégré des Microsystèmes Nonlinéaires

Type de document :
Communication dans un congrès
Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2005, France. pp.0, 2005
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Contributeur : Ahcène Bounceur <>
Soumis le : mercredi 29 septembre 2010 - 16:24:53
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:15:43

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  • HAL Id : hal-00522099, version 1

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A. Dhayni, Salvador Mir, L. Rufer, A. Bounceur. Autotest Intégré des Microsystèmes Nonlinéaires. Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2005, France. pp.0, 2005. 〈hal-00522099〉

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