Méthodes de mesure micro-ondes pour la caractérisation électromagnétique de couches ferroélectriques d'épaisseurs nanométrique

Type de document :
Communication dans un congrès
Colloque International Télécom'2009 & 6èmes JFMMA, Mar 2009, agadir, Maroc. pp.6, 2009
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Contributeur : Jean-Luc Mattei <>
Soumis le : mardi 15 juin 2010 - 16:41:50
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Citation

Serge De Blasi, Ismail Batard, Alexis Chevalier, Philippe Talbot, Patrick Queffelec. Méthodes de mesure micro-ondes pour la caractérisation électromagnétique de couches ferroélectriques d'épaisseurs nanométrique. Colloque International Télécom'2009 & 6èmes JFMMA, Mar 2009, agadir, Maroc. pp.6, 2009. 〈hal-00492352〉

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