Influence des éléments RLC dépendant de la fréquence sur le comportement dans le domaine temporal des interconnexions dans un environnement complexe en technologie CMOS avancée

Type de document :
Communication dans un congrès
13e Colloque International de Compatibilité Electromagnétique, CEM 2006., Apr 2006, Saint-Malo, France. pp.350-351, 2006
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Contributeur : Noël Tanguy <>
Soumis le : mardi 1 juin 2010 - 11:38:54
Dernière modification le : mardi 16 janvier 2018 - 15:54:15

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  • HAL Id : hal-00488138, version 1

Citation

Yves Quéré, Thierry Le Gouguec, Noël Tanguy, Pierre-Marie Martin, Denis Le Berre, et al.. Influence des éléments RLC dépendant de la fréquence sur le comportement dans le domaine temporal des interconnexions dans un environnement complexe en technologie CMOS avancée. 13e Colloque International de Compatibilité Electromagnétique, CEM 2006., Apr 2006, Saint-Malo, France. pp.350-351, 2006. 〈hal-00488138〉

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